Agendas

Descripción:
FUERA DE FUNCIONAMIENTO Tipo Bragg-Brentano (theta/2theta), para caracterización de estructura cristalina de polvos, sólidos y capas delgadas.

Encargado:
Dr. Oscar Blanco

Correo:
gcastel@cucea.udg.mx

Descripción:
Para caracterización de estructura cristalina de polvos, sólidos y capas delgadas. (solicitar los días Martes por la tarde para haz rasante)

Encargado:
Dr. Martín Flores Martínez

Correo:
maflores66@gmail.com

Descripción:

Técnica de análisis superficial conocida como XPS ó ESCA. Mide la energía de enlace (eV) de los electrones que se encuentran en los primeros 10 nm de la superficie del material. Es posible identificar cualquier elemento, excepto H y He. Tiene fuente monocromática de Al, de 1486.7 eV de energía. Se puede analizar cualquier material en estado sólido. (Sólo solicitar los días L,Mi,V)

Encargado:
Dr. Milton Vázquez Lepe

Correo:
milton.vazquez@academicos.udg.mx

Descripción:
Útil para ver imágenes renderizadas de un conjunto de datos multidimensionales como los producidos por datos experimentales.

Encargado:
Dr. Eduardo Rodriguez de Anda

Correo:
eduardo.deanda@cucei.udg.mx

Descripción:
Espectrómetro de Fluorescencia para el análisis de las propiedades optoelectrónicas de muestras líquidas. Intervalo de Exc = 250 - 500 nm Intervalo de Emis = 300 - 800 nm. Nota: *Solicitar servicio solo los viernes en la Agenda. Confirmar con el responsable la fecha de medición de las muestras.

Encargado:
Dr. Oscar Ceballos Sanchez

Correo:
oscar.ceballos@academicos.udg.mx

Descripción:

Marca Olympus, modelo BX50. Cuenta con compensadores rotatorios para medición del retardo a varios ordenes y con platinas calentables desde temperatura ambiente hasta 350 Celsius y a 1200 Celsius. Facilidades en luz reflejada y transmitida. 

Encargado:
Dr. Guillermo Castellanos Guzmán

Correo:
gcastel@cucea.udg.mx

Descripción:
Future-Tech FM800 con capacidad de aplicar cargas desde 1g hasta 2 kg.

Encargado:
Dr. Eduardo Rodriguez de Anda

Correo:
eduardo.deanda@cucei.udg.mx

Descripción:
Microscopio con problemas de servicio, no está en funcionamiento.

Encargado:
Dr. Martín Flores Martínez

Correo:
martin.flores@red.cucei.udg.mx

Descripción:
Marca TESCAN modelo MIRA 3 LMU. De alta resolución (1 nm para alto vacío). Cuenta con micro sonda para microanálisis superficial por medio de espectroscopia de energía dispersiva de rayos-X (EDS) marca Bruker.

Encargado:
Dr. Martín Flores Martí­nez

Correo:
maflores66@gmail.com

Descripción:
Para observación de microestructuras metálicas.

Encargado:
Dr. Eduardo Rodriguez de Anda

Correo:
eduardo.deanda@cucei.udg.mx

Descripción:
Instalado en funcionamiento

Encargado:
Dr. Omar Jiménez Alemán

Correo:
omar.jimenez@cucei.udg.mx

Descripción:
Dektak 150. Caracterización de topografía superficial.

Encargado:
Dr. Eduardo Rodriguez de Anda

Correo:
eduardo.deanda@cucei.udg.mx

Descripción:
Marca Gamry Reference 600, polarizaciones potenciodinámicas y para medir espectroscopia de impedancias y ruido electroquímico entre otras técnicas.

Encargado:
Dr. Martín Flores Martínez

Correo:
martin.flores@red.cucei.udg.mx

Descripción:
Para depositar multicapas por medio de la técnica de erosión iónica (sputtering), dos fuentes DC y una RF, calentador de sustratos con cuatro estaciones con capacidad de movimiento, control de hasta dos gases.

Encargado:
Dr. Martí­n Flores Martínez

Correo:
martin.flores@red.cucei.udg.mx

Descripción:
Para medir la fuerza de fricción, hacer desgaste en el arreglo bola sobre disco y sobre placa con movimiento circular y deslizante respectivamente, y medición de resistencia al rayado y microdureza. Sistema de microabrasión (ball-cratering) con geometría de esfera fija, con capacidad de medir espesor de recubrimientos, coeficiente de desgaste microabrasivo, y coeficiente de fricción. Aplica cargas de mN a 100N a diferentes velocidades de deslizamiento.

Encargado:
Dr. Marín Flores Martínez

Correo:
martin.flores@red.cucei.udg.mx